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美国microtrac粒径分析仪

美国microtrac粒径分析仪S3500
是第一个使用三个精确放置的红色激光二极管来精确描述颗粒的粒度分析仪,专的利的三激光系统为各种应用提供了精确,可靠和可重复的粒度分析,利用已证明的理论的Mie补偿球形粒子和专的利原理的改进的Mie计算非球形粒子。S3500测量的粒度从0.02到2800µm

  • 产品型号:S3500
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-11-06
  • 访  问  量:162
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美国microtrac粒径分析仪S3500

是第一个使用三个精确放置的红色激光二极管来精确描述颗粒的粒度分析仪,专的利的三激光系统为各种应用提供了精确,可靠和可重复的粒度分析,利用已证明的理论的Mie补偿球形粒子和专的利原理的改进的Mie计算非球形粒子。S3500测量的粒度从0.02到2800µm

性能指标

1.三激光,红色,多探测器,多角度光学系统

2.对非球形粒子采用米氏补偿和修正米氏计算的算法

3.测量范围从0.02到2800µm

4.干湿法测量

5.封闭的光路确保光学元件的完的全保护,很少或没6.6有操作员干预

美国microtrac粒径分析仪S3500

是第一个使用三个精确放置的红色激光二极管来精确描述颗粒的粒度分析仪,专的利的三激光系统为各种应用提供了精确,可靠和可重复的粒度分析,利用已证明的理论的Mie补偿球形粒子和专的利原理的改进的Mie计算非球形粒子。S3500测量的粒度从0.02到2800µm

性能指标

1.三激光,红色,多探测器,多角度光学系统

2.对非球形粒子采用米氏补偿和修正米氏计算的算法

3.测量范围从0.02到2800µm

4.干湿法测量

5.封闭的光路确保光学元件的完的全保护,很少或没6.6有操作员干预

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